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GUARESCHI, W.; AZAMBUJA, J.; KASTENSMIDT, F.; REIS, R.; DURÃO, O. S. C.; SCHUCH, N.; DESSBESEL, G. Configurable test bed design for nanosats to qualify commercial and customized integrated circuits. In: IEEE AEROSPACE CONFERENCE., 2013, Big Sky, Montana, USA. Proceedings... 2013. 2013 IEEE Aerospace Conference, AERO 2013, March 2, 2013 - March 9, 2013. ISBN 978-1-4673-1811-2. DOI: <10.1109/AERO.2013.6497170>. Disponível em: <http://doi.org/10.1109/AERO.2013.6497170>.
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... como proposto por Guareschi et al. (2013).
... pode ser encontrada na literatura (GUARESCHI et al., 2013).